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Jueves , 21.03.2019 / 05:09 Hoy

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Microscopía electrónica de barrido

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El avance en la instrumentación ha permitido -en la nanotecnología, la electrónica y la ciencia de materiales- la caracterización morfológica y composicional para el diseño e implementación de aplicaciones específicas. La microscopía electrónica de barrido acoplada a espectroscopia de energía dispersiva de rayos X (SEM/EDS por sus siglas en inglés) ha sido una de las más relevantes; su aplicación se ha extendido a análisis arqueométricos, de aleaciones, pigmentos, textiles, polímeros, minería, cosméticos, biomateriales, ciencias de la vida, catalizadores, semiconductores, entre otros. Estas aplicaciones se han realizado gracias al avance en la técnica (SEM/EDS), ya que la electrónica en estos sistemas permite analizar cualquier tipo de muestra sin un tratamiento previo, reduciendo tiempo, costos y complicaciones.

Considerando que para lograr la iluminación de la muestra se requiere el uso de electrones, los equipos modernos de SEM los emiten mediante un cañón de emisión de campo (FEG por sus siglas en inglés) que proporciona haces de electrones de alta y baja energía; éstos mejoran la resolución espacial y minimizan cargas sobre la muestra a observar. Aunado al mejoramiento del diseño de lentes electromagnéticas, objetivas y de imagen, y con la implementación de otros detectores, se logran captar los electrones generados de la interacción con la superficie de la muestra, lo cual produce imágenes que reflejan las características superficiales y proporciona información sobre las formas, texturas y composición química de sus constituyentes. Asimismo, la electrónica en estos sistemas SEM ha permitido que sean operables a bajos vacíos y/o condiciones ambientales, causando un menor daño sobre la muestra, principalmente aquellas de tipo biológico y arqueológico.

Todas estas características permiten a los microscopios ópticos (que utilizan electrones en lugar de luz) amplificaciones de hasta un millón de aumentos, con resoluciones que llegan hasta los 0.7 nanómetros (1 nm es la billonésima parte de un metro). Tratando siempre de estar a la vanguardia, la Udlap cuenta actualmente con un equipo de ultra-alta resolución FE-SEM de la marca TESCAN, modelo MAIA3 2017, único en Latinoamérica, que cuenta con diferentes detectores: SE (secondary electron), BSE (backscattered electrons), EDS (spectroscopy energy dispersive), STEM (scanning transmission electron microscope) y con una tecnología en columna Triglav, que permiten el análisis y caracterización de muestras orgánicas, inorgánicas, biológicas, metálicas, materiales nanoestructurados y aleaciones con aplicaciones en diversos campos del conocimiento.

FELIPE CÓRDOVA
felipe.cordova@udlap.mx

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